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概述
ATX362高精度超聲波測厚儀采用脈沖反射超聲波測量原理,適用于超聲波能以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量,測量分辨率高達(dá)0.001mm。此儀器可對各種板材和各種加工零件作**測量,適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度,可被廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領(lǐng)域。
本產(chǎn)品符合以下標(biāo)準(zhǔn):《超聲波測厚儀校準(zhǔn)規(guī)范》 JJF 1126-2004
功能特點
- 采用高精度計時芯片和V-PATH校準(zhǔn)模型,實現(xiàn)精準(zhǔn)測量,顯示分辨率高達(dá)0.001mm
- 同時支持單晶探頭和雙晶探頭,既可對超薄工件進(jìn)行精準(zhǔn)測量,又能兼顧常規(guī)大量程測量
- 支持實時溫度補償,消除探頭溫度變化引起的測量誤差,探頭插入儀器后只需校準(zhǔn)一次即可長期使用,無需頻繁校準(zhǔn)
- 可進(jìn)行穿越涂層測量(基本款),并同時測量涂層和基材厚度(高度款)
- 內(nèi)置藍(lán)牙模塊,可與PC機或智能終端設(shè)備進(jìn)行有線、無線數(shù)據(jù)傳輸,并可進(jìn)行無線打印
- 支持實時在線測量、上位機指令控制(可以定制)
精度超聲波測厚儀主要功能
· 具有脈沖回波(P-E)、界面回波(I-E)和回波回波(E-E)多種測量方式,可進(jìn)行常規(guī)測量和穿越涂層測量
· 支持多種專用探頭,16檔增益等級可調(diào),7檔發(fā)射等級可調(diào),可根據(jù)實際測量工件進(jìn)行設(shè)置,在不同場景下達(dá)到最佳測量效果
· 具有上下限掃描、差值測量、超限報警等多種測量模式
· 已知厚度可以反測聲速,以提高測量精度
· 顯示信息豐富,包括厚度值、聲速、耦合狀態(tài)、回波數(shù)、電量狀態(tài)、時間等
· 完整保存測量信息,包括測量厚度、測量聲速、測量時間等
· 支持鍵盤鎖功能,避免測量過程中,誤觸導(dǎo)致參數(shù)設(shè)置變化
· 內(nèi)置藍(lán)牙模塊及Mini-USB接口,可連接便攜式熱敏打印機,并可與PC機或智能手機進(jìn)行有線、無線數(shù)據(jù)傳輸
· 可進(jìn)行軟硬件定制,包括電源改裝、通訊接口改裝、通訊協(xié)議定制等
儀技術(shù)參數(shù)
· 測量范圍:0.15~700 mm (45#
鋼) (具體有配置探頭決定)
· 可選探頭如下:
1、0.15~28mm(標(biāo)配超薄探頭)
2、0.8~28mm(小管徑探頭)
3、0.8~300mm(中量程探頭)
4、3~700mm(大量程探頭)
5、2~200mm (高溫探頭、-10~310°C)
· 聲速范圍:1 ~ 19999 m/s
· 顯示精度:0.001mm
· 測量誤差:0.03mm 或
0.3%*H
· 測量周期:2 ~ 4次/秒
· 工作頻率:2 ~15MHz
· 測量模式:P-E、I-E、E-E、AUTO
· 校準(zhǔn)功能;探頭校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)
· 校準(zhǔn)試塊:4.000mm(鋼)
· 反測聲速:支持,可對已知厚度物體反測聲速
· 增益調(diào)節(jié):16檔增益等級可調(diào)、7檔發(fā)射等級可調(diào)
· 測量模式:單點測量,掃描測量,界限掃描,差值測量,超限報警
· 數(shù)據(jù)存儲:1000組測量結(jié)果,包括厚度測量值、測量聲速、測量時間等相關(guān)信息
· 屏幕顯示:中英文菜單可切換,F(xiàn)STN LCD顯示,帶冷光源照明背光
· 顯示內(nèi)容:厚度、聲速、耦合狀態(tài)、有效回波數(shù)、電量狀態(tài)、時間等
· 數(shù)據(jù)通訊:藍(lán)牙 /
Mini-USB接口,虛擬串口通訊,可與PC機或智能終端設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸
· 數(shù)據(jù)打印:可選配便攜式藍(lán)牙熱敏打印機
· 工作電源:內(nèi)置3.7V可充電鋰離子電池(充電時間約3~4小時)
· 自動關(guān)機:待機超時(可設(shè)置)自動關(guān)機,欠壓(低于3.4V)自動關(guān)機
· 使用溫度:-10 ~ 50 °C
· 存放溫度:-30 ~ 60 °C
· 外形尺寸:157mm*78mm*37mm
· 主機重量:約260g
· 機殼材質(zhì):ABS+PC合金
· 儀器箱材質(zhì):高抗沖擊ABS(IK08),防水防塵(IP67)
探頭技術(shù)指標(biāo):
探頭規(guī)格 |
S15-P06 (標(biāo)配配置) |
G5M-P10 |
G7M-P06 |
G2M-P12 |
H3M-P12 |
|
探頭類型 |
單晶 |
雙晶 |
雙晶 |
雙晶 |
雙晶 |
|
測量范圍 |
0.15~28 mm |
0.8~300 mm |
0.8~50 mm |
3.0~700 mm |
2.0~200 mm |
|
測量誤差 |
H<10 |
0.01mm |
0.03mm |
0.03mm |
0.05mm |
0.05mm |
H≥10 |
0.3%H |
0.3%H |
0.3%H |
0.5%H |
0.5%H |
|
探頭外徑 |
8mm |
13mm |
9mm |
17mm |
15mm |
|
測量頻率 |
15MHz |
5MHz |
7.5MHz |
2MHz |
3MHz |
|
接觸溫度 |
-10~60°C |
-10~60°C |
-10~60°C |
-10~60°C |
-10~310°C |
|
適用范圍 |
高精度測量或測量超薄工件 |
測量常規(guī)工件 |
微徑探頭,測量曲面及小工件 |
粗晶探頭,測量鑄件及較厚工件 |
高溫探頭,測量高溫工件 |
基本配置
· ATX362高精度超聲波測厚儀 主機 1臺
· 標(biāo)配超薄探頭S15-P06 1只
· 充電器 1個
· 耦合劑 1瓶
· 隨機文件 1套
· 儀器箱 1個